光学测试系统 — 多物理场协同的整机级测量方案
在核心元器件与独立设备之上，中科迅光进一步将精密光源、高灵敏度探测、极端环境控制与自动化软件深度融合，打造了面向前沿科学研究与产业应用的光学测试整机系统。全系系统采用模块化架构设计，支持上位机软件全流程自动化控制与数据采集，在多物理场协同调控下实现高精度、高稳定性的光谱、磁光与超快测量。
磁光与非线性光学测试系统
◈ 磁光克尔测试系统（MOKE）
中科迅光 XGS-MOKE-1 磁光克尔测试系统采用平衡探测模式，克尔角分辨率达 1 × 10⁻⁶ rad，可选配超导磁体与低温恒温器，兼容 2–400 K 宽温域及最高 5 T 磁场环境。系统覆盖显微成像与泵浦-探测两种工作模式，适用于块体单晶、薄膜及低维材料的磁光效应表征。模块化设计支持按需拓展成像模块与多物理场调控单元，已服务于中国科学技术大学拓扑磁光克尔效应研究（成果发表于 Nature Physics）等前沿课题。
◈ 二次谐波测试系统（SHG）
XGS-SHG-1 二次谐波测试系统支持 800 nm 基频光入射、400 nm 二次谐波信号探测，空间分辨率 500 nm，达到亚微米级表征精度。系统提供六种偏振模式切换（Pin / Pout / Sin / Sout / XX / XY），支持多维度偏振态分析，可选 5X / 20X / 50X / 100X 多档物镜放大，兼容 2–400 K 温域与最高 5 T 超导磁体，信号经集成光学系统连接光谱仪或光电倍增管输出。适用于二维材料、多铁材料的非线性光学性质与晶体对称性研究。
太赫兹光谱测试系统
◈ 太赫兹时域光谱系统（THz-TDS）
XGS-THz-TDS-1 太赫兹时域光谱系统提供透射与反射两种光路模式，光谱带宽 0.1–2.5 THz，动态范围超过 50 dB，光谱分辨率优于 80 GHz。系统采用大范围高精度时域扫描设计，时域扫描长度超过 1000 ps，时延精度优于 30 fs，单谱采集仅需约 3 分钟。兼容 77–300 K 温域环境，适用于低温物理与材料科学中的太赫兹波段介电性质、载流子动力学与振动光谱研究。
◈ 太赫兹超快光谱测试系统（泵浦-探测）
XGS-THz-PP-1 太赫兹超快光谱测试系统集成磁光克尔、法拉第、透射及反射四种探测模式，以高达 350 kV/cm 的峰值太赫兹场强驱动材料激发，实现优于 50 fs 的超快时间分辨率。光谱覆盖 0.1–1.5 THz，时域延迟精度优于 30 fs，单谱采集约 3 分钟，兼容 77–300 K 宽温域环境。系统将超快时间分辨与多维度光路探测融为一体，适用于凝聚态物理中非平衡态超快过程、太赫兹磁光效应及光-物质相互作用的前沿探索。
◈ 光电测量系统定制研发
当标准设备无法满足特殊光谱测量需求、实验室闲置设备有待盘活利用，或现有系统需要功能升级时，中科迅光提供全栈自研的定制化光电测量系统研发服务。
三大核心优势贯穿项目始终：极致利旧——通过技术评估与定制化接口设计，盘活存量资产，以最低成本实现性能跨越；全链条自研——底层软硬件自主开发，拒绝黑盒交付，确保高精度、数据开放与结果可复现；高度集成——一体化设计、一站式交付，将用户从繁琐的系统搭建与调试中解放出来，使其专注于实验研究本身。
定制服务遵循五步闭环流程：从深入实验室定义系统技术指标开始，经数字孪生技术进行光机热电仿真与方案优化，到核心件定制开发，再完成系统集成与新老部件联调，最终交付高精度测量系统并提供全面的操作培训与终身校准支持。可承接的服务范围涵盖光路改造与搭建、电路设计与实现、机械设计与加工三大方向。
已有超过 30 家国内外高校、科研机构与企业实验室选择了中科迅光的定制化光学测试方案，用户成果先后发表于 Nature Physics、Nature Materials、Advanced Materials 等国际顶级期刊。
为什么选择迅光
从磁光效应到非线性光学，从太赫兹时域光谱到超快泵浦-探测，从标准整机到深度定制——中科迅光光学测试系统以全链条自主技术底座（精密光学设计、高信噪比电路、智能化采集软件、AI for Science 算法）为支撑，在多物理场协同调控下实现高精度、可复现的整机级光电测量，持续为前沿科学与高端工业提供值得信赖的系统级解决方案。